1、壓力測量下限

　　在低壓力下(λ ≥r2)，氣體熱傳導散失的熱量Qg與壓力p有關；而熱絲引線熱傳導和熱輻射散失的熱量QL、Qr與壓力無直接關系(可能有一些次級效應)。當壓力p更低時(λ》r2)Qg變小，并引起熱絲溫度變化，如果這種變化已無法從噪聲中檢測出來，則此壓力即是測量的下限。此時熱絲的平衡溫度T1主要決定于QL和Qr。一般的熱傳導真空計的測量下限為10^-1～10^-2 Pa。

　　為了擴展熱傳導真空計的測量下限，必須提高Qg并設法降低QL和Qr。根據(jù)式(4-1)，選用細而長的熱絲，或選用λL小的熱絲材料，均能降低 QL。但選擇熱絲材料時，還必須考慮機械強度、電阻溫度特性、熱穩(wěn)定性和化學穩(wěn)定性等因素。

　　根據(jù)式(4-2)，為了降低Qr，應選用表面全輻射系數(shù)ε1小的材料作熱絲，而管壁內(nèi)表面的全輻射系數(shù)ε2愈大愈好。同時還要綜合考慮其他一些因素，如T1、T2、r1及L等對Qg的影響。

　　選用適應系數(shù)α1大的材料或通過對材料表面進行處理的方法提高 α1，均可提高 Qg。但考慮到熱絲的機械強度等因素，提高α1是有限的。

　　增大L既能提高Qg又可降低QL；增大r2或提高溫差，雖然能增大Qg，但與降低QL和Qr有矛盾，須折中考慮。由于Qr與溫度呈四次方的關系，所以增大溫度時，Qr比Qg增大得更快。為便于綜合考慮，可假設ε1 =ε2，則有

　　根據(jù)式(4-7)，選用足夠低的T2和不太高的T1值，可提高Qg/Qr。將管殼浸于冷劑中可使T2大大降低，但使用時既不方便也不經(jīng)濟，還有可能出現(xiàn)被測氣體凝結等現(xiàn)象，故一般情況很少采用。真空技術網(wǎng)(http://m.mp99x.cn/)認為實用的熱傳導真空計規(guī)管溫度T2 =T0(室溫)，熱絲溫度T1通常取100～ 200℃。

2、壓力測量上限

　　根據(jù)圓筒系統(tǒng)熱傳導的理論，對于熱絲半徑r1遠小于管殼半徑r2的圓筒系統(tǒng)，當λ≥r1時，其熱傳導與壓力有關。真空技術網(wǎng)(http://m.mp99x.cn/)認為這主要是由于在r1《r2的情況下，分子碰撞管壁的幾率遠大于碰撞熱絲的幾率，故氣體溫度近似等于管壁溫度 T2。只是在離熱絲較近的距離內(nèi)，氣體溫度才有劇變。

　　如果壓力再高，以至于λ<r1時，則碰撞熱絲返回的分子，在其第一個自由程所碰撞的分子將是“熱”的，此時，它必須經(jīng)過多次碰撞才能喪失其偏高的熱量。因此，對應于λ =r1的壓力就是熱傳導真空計壓力測量上限的理論值。實際的壓力測量上限與規(guī)管結構和測量線路有關，可采取措施擴展壓力測量上限。其辦法包括：適當提高熱絲的工作溫度；采用細而短的熱絲；利用熱對流現(xiàn)象等。采用這些方法后，壓力測量上限可延伸至10³～10⁴Pa，甚至可達0.1MPa。